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Mentor推出Tessent Safety生态系统 以满足自动驾驶时代的IC测试要求

作者:时间:2019-11-19来源:电子产品世界收藏

·         作为Arm公司功能安全合作伙伴计划的一部分,Tessent Safety 生态系统采用了该公司全面的汽车 IP 组合

本文引用地址:/article/201911/407230.htm

·         Mentor 推出了新的 BIST 解决方案,作为 Tessent Safety 生态系统的一部分,可提供比传统产品快 10 倍的系统内速度

西门子旗下业务Mentor 近日宣布推出一套全新的 Tessent 软件安全生态系统,即由 Mentor与其行业领先合作伙伴携手提供的涵盖最优汽车 解决方案的产品组合,该程序能够帮助 设计团队满足全球汽车行业日益严格的功能安全需求。

Tessent Safety 生态系统功能强大,能够替代其他基于封闭、单片和单源模型的同类程序。Mentor 的功能安全保证的开放式生态系统方法使得芯片制造商可以将 Mentor 业界领先的 IC 测试技术与其它先进的解决方案相结合,从而构建一套更加完整、性能更高的解决方案。

西门子旗下业务Mentor 的Tessent产品系列副总裁兼总经理Brady Benware表示:“快速的系统内 IC 测试性能有助于缩短从故障检测到片上安全机制启动的时间。为提高 IC 测试性能,汽车 IC 的设计人员需要紧密结合包括 DFT 和非 DFT 技术在内的所有片上安全机制,而这种方法正是 Mentor Tessent Safety 生态系统的基础。”

Mentor 推出 Tessent Safety 生态系统旨在与众多行业领先的合作伙伴通力合作,实现快速扩展。该生态系统包括:

·         Mentor 的业界领先的内建自测试 (BIST) 技术,包括新型 Tessent LBIST with Observation Scan Technology (LBIST-OST) 解决方案,能够大幅减少汽车 IC 中数字逻辑组件的系统内监控的运行时间。新的 Tessent LBIST-OST 解决方案能够帮助客户满足严格的汽车功能安全需求,与传统的LBIST 技术相比,可使系统内测试时间缩减高达 10 倍。

·         Tessent MemoryBIST 具有全面的自动化流程,可提供 RTL 或门级的设计规则检查、测试规划、集成和验证。Tessent MemoryBIST 具有分层架构,因此可将 BIST 和自修复功能添加到单个内核和顶层。 

·         Tessent MissionMode 产品将自动化功能与片上 IP 组合在一起,让用户在车辆正常运行的过程中可以随时对整个汽车电子系统中的半导体芯片进行测试和诊断。

·         Tessent DefectSim晶体管级缺陷仿真器,用于模拟、混合信号 (AMS) 和非扫描数字电路。Tessent DefectSim可测量缺陷覆盖率和容差,是高产量和高可靠性 IC 的理想选择。

·         Mentor 参与了 Arm 功能安全合作伙伴计划 (AFSPP)。Mentor Tessent Safety 生态系统利用了 Arm Safety Ready IP 功能,例如 Cortex-R52 处理器,将实时执行与任何 Arm 处理器中最高水平的集成功能安全能力相结合,采用先进的超级监控程序技术来简化软件集成,并通过强大的分离功能来保护安全关键代码。

·         Mentor 的汽车级自动测试向量生成 (ATPG) 技术,可检测出通常被传统测试向量和故障模型遗漏的晶体管级和互连级缺陷。

·         与 Mentor 的 Austemper SafetyScope 和 KaleidoScope 产品紧密关联,这些产品添加了最先进的安全分析、自动校正和故障仿真技术,可解决随机硬件故障。Austemper 技术可以分析设计人员 RTL 中的故障和漏洞,并通过智能的故障注入来帮助安全机制有计划地对覆盖的故障做出反应。通过并行化和分布式操作方法,专有加速算法可实现比标准门级故障注入技术高出许多数量级的速度。

瑞萨电子(Renesas) 在早期就采用了 Mentor Tessent Safety 生态系统的关键技术,在其设计一款新型汽车处理器时评估了 Mentor 最新推出的 Tessent LBIST-OST 解决方案。

“利用Tessent LBIST-OST 解决方案中的 Observation Scan 技术,我们能够将系统内LBIST 的测试时间缩减 5 倍,从而实现了更快的覆盖率提升,”Renesas Electronics Corporation 物联网和基础设施事业部共享研发 EDA 业务部数字设计技术部门总监 Hideyuki Okabe 表示,“这使我们能够在将 LBIST 用作安全机制的同时缩短容错时间间隔 (FTTI),并提高检测到汽车产品新缺陷时的安全响应。我们期望将这项技术继续应用在我们的汽车产品之中。”



关键词: IC 测试

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